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J-GLOBAL ID：200902256767883800   整理番号：04A0164675

異なる基板上でのチタン酸鉛薄膜における残留応力

Residual stress in lead titanate thin film on different substrates

著者 (5件)： OHNO T (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  FU D (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  SUZUKI H (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN) ,  MIYAZAKI H (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  ISHIKAWA K (Yokkaichi Univ., Yokkaichi, JPN)
資料名： Journal of the European Ceramic Society  (Journal of the European Ceramic Society)
巻： 24  号： 6  ページ： 1669-1672  発行年： 2004年 
JST資料番号： E0801B  ISSN： 0955-2219  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： チタン酸鉛(PT)薄膜における残留応力に及ぼす基板の熱膨張係...

シソーラス用語： *チタン酸鉛 ,...

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分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (3件)： チタン酸鉛 ,  薄膜 ,  残留応力