文献
J-GLOBAL ID:200902259512045885   整理番号:09A1038655

SRAMのアルファ粒子および中性子起因のソフトエラー率とスケーリングトレンド

Alpha Particle and Neutron-induced Soft Error Rates and Scaling Trends in SRAM
著者 (4件):
資料名:
巻: 47th Vol.1  ページ: 206-211  発行年: 2009年 
JST資料番号: A0631A  ISSN: 1541-7026  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
アルファ線に起因するソフトエラー率(α-SER)を180nmから90nmテクノロジのSRAMを使って高精度で測定するため,地下でリアルタイム測定を行った。更に,加速器を使って中性子線の影響を調べた。超低アルファ線(ULA)グレードの樹脂をパッケージ材料に用いてもα-SERは90nmまで増加し,中性子起因のソフトエラー率(n-SER)よりも大きいことが判った。様々なパッケージ樹脂のアルファ線放射率を調べたところ,LGAグレードであってもばらつきが製品によって5倍程度と大きいことが判った。シミュレーションによればアルファ線の影響は65nmテクノロジから減少し,反対にn-SERは65nmテクノロジまで少しずつ減少し,45nmから増加することを示唆している。
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

準シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
記憶装置 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る