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J-GLOBAL ID：200902259630353420   整理番号：09A0917873

TLBタグのための効率的信頼性向上手法

An Efficient Reliability Enhancing Method for TLB Tag

著者 (2件)： SHIN Soong Hyun (Seoul National Univ., Seoul, KOR) ,  JANG Seong Tae (Univ. Suwon, Gyeonggi-do, KOR)
資料名： Information (Koganei)  (Information (Koganei))
巻： 12  号： 4  ページ： 775-788  発行年： 2009年07月 
JST資料番号： L7416A  ISSN： 1343-4500  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誤り検出や誤り訂正による信頼性向上手法では,単一ビットソフトエラーの場合のキャッシュアクセス遅延の増大など,性能上のオーバーヘッド増加が問題となる。これに対し本研究では,TLBのタグ構造において有害な誤りを効率的に検出する信頼性向上のための新しい効率的手法を提案した。本研究の動機づけとして,キャッシュタグ上でのソフトエラーの影響,完全タグパリティ生成のオーバーヘッド,Hamming距離のミス,キャッシュタグのフォールスヒットに向けたアーキテクチャ上の脆弱性因子,などについて論じた。部分タグパリティビット比較手法を用いたフォールスヒット検出方式を提案し,その内容を紹介した。命令語,データキャッシュ,TLBにおけるMH-1(Hamming距離のミス-1)の分布を示すためにシミュレーション評価を実施した。それにより提案手法の有効性を示した。

シソーラス用語： *キャッシュメモリ ,  誤り検出 ,  信頼性 ,  *ソフトエラー ,  Hamming距離 ,  性質 ,  *コンピュータセキュリティ ,  パリティ検査 ,  計算機シミュレーション ,  システム評価
準シソーラス用語： *TLB ,  オーバヘッド ,  脆弱性

分類 (3件)： 記憶方式  (JC02040V) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  データ保護  (JD01020V)

引用文献 (20件)：

• Robert Baumann. Soft errors in advanced computer systems. IEEE Design and Test of Computers, 22(3): 258-266, 2005.
• Yervant Zorian and Samvel Shoukourian. Embedded-memory test and repair: Infrastructure IP for SoC yield. IEEE Design and Test of Computers, 20(3): 58-66, 2003.
• Sung Woo Chung and Kevin Skadron. On-demand solution to minimize i-cache leakage energy with maintaining performance. IEEE Trans. Comput., 57(1): 7-24, 2008.
• C. L. Chen and M. Y. Hsiao. Error-correcting codes for semiconductor memory applications: A state-of-the-art review. IBM Journal of Research and Development, 28(2): 124-134, 1984.
• IBM Whitepaper. Enhancing IBM netfinity server reliability: IBM chipkill memory.

タイトルに関連する用語 (4件)： TLB ,  タグ ,  信頼性向上 ,  手法