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J-GLOBAL ID：200902263424001409   整理番号：07A0418675

貴金属被覆Wナノチップによる電界電子放出における安定性 頂点構造依存性

Stabilities in field electron emissions from noble-metal covered W nano-tips: apex structure dependence

著者 (9件)： ITAGAKI T. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  ROKUTA E. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  KUO H.-S. (Academia Sinica, Taipei, TWN) ,  NOMURA K. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  ISHIKAWA T. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  CHO B.-L. (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  HWANG I.-S. (Academia Sinica, Taipei, TWN) ,  TSONG T. T. (Academia Sinica, Taipei, TWN) ,  OSHIMA C. (Waseda Univ., Tokyo, JPN)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 39  号： 4  ページ： 299-303  発行年： 2007年04月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3種の頂点原子構造,単一原子チップ(1原子),トリマチップ(...

シソーラス用語： *貴金属 ,...
準シソーラス用語： *電界電子顕微鏡 ,...

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分類 (3件)： 無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  金属の表面構造  (BK15020P)

タイトルに関連する用語 (6件)： 貴金属 ,  ナノチップ ,  電界電子放出 ,  安定性 ,  頂点 ,  構造依存性