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J-GLOBAL ID：200902263470811164   整理番号：08A0583805

臨界電流密度の測定のための帰納法と永久磁石法の数値シミュレーション

Numerical Simulation of Inductive Method and Permanent-Magnet Method for Measuring Critical Current Density

著者 (3件)： KAMITANI Atsushi (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  TAKAYAMA Teruou (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  IKUNO Soichiro (Tokyo Univ. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 44  号： 6  ページ： 926-929  発行年： 2008年06月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 臨界電流密度は高温超伝導体(HTS)の工学応用では最も重要なパラメータの1つである。臨界電流密度の測定法として,コイルを用いた帰納法と永久磁石法の2つのタイプの非接触方法が提案されている。本論文では,HTS薄膜の遮蔽電流密度の時間発展を解析するための数値コードを開発し,帰納法と永久磁石法の両方を研究した。電流ベクトルポテンシャル法を用いて遮蔽電流密度の挙動を定式化した。開発したコードを用いて合成積分-微分方程式の初期境界値問題を解き,帰納法と永久磁石法両方を再生し,数値シミュレーションを行い,その結果を示した。永久磁石法では,最大斥力と臨界電流密度間に大雑把な線形関係があるが,帰納法では臨界電流密度以上では精度が低いことが分った。

シソーラス用語： *臨界電流密度 ,  シミュレーション ,  計測 ,  高温超伝導体 ,  数値解析 ,  ベクトルポテンシャル ,  境界値問題 ,  電流密度
準シソーラス用語： *永久磁石法 ,  *帰納法 ,  遮蔽電流密度 ,  *数値シミュレーション

分類 (2件)： 超伝導体の物性一般  (BM04021A) ,  数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 臨界電流密度 ,  帰納法 ,  永久磁石 ,  数値シミュレーション