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J-GLOBAL ID：200902264156892750   整理番号：03A0479733

傾斜またはくさび形の表面直下の欠陥の観察とその光音響顕微鏡法による非破壊的評価

Observation of Tilted or Wedge-Shaped Subsurface Defects and Their Nondestructive Evaluation by Photoacoustic Microscopy

著者 (4件)： ENDOH H (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  MIYAMOTO K (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  HIWATASHI Y (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN) ,  HOSHIMIYA T (Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 42  号： 5B  ページ： 3052-3053  発行年： 2003年05月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光音響顕微鏡を利用して,傾斜またはいろいろな深さの表面直下に...

シソーラス用語： 光音響効果 ,...

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分類 (2件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F) ,  非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (6件)：

• 1) P. V. McLaughlin, Jr., M. G. Mirchandani and P. V. Ciekurs: Trans. ASME. J. Eng. Mater. Technol. 109 (1987) 146.
• 2) Y.-L. Wang, F.-Z. Shen and S.-T. Tu: Eng. Frac. Mech. 47 (1993) 39.
• 3) T. Hoshimiya, H. Endoh and Y. Hiwatashi: Jpn. J. Appl. Phys. 35 (1996) 2916.
• 4) H. Endoh, Y. Hiwatashi and T. Hoshimiya: Jpn. J. Appl. Phys. 36 (1997) 3312.
• 5) T. Hoshimiya and K. Miyamoto: Jpn. J. Appl. Phys. 39 (2000) 3172.

タイトルに関連する用語 (5件)： くさび形 ,  欠陥 ,  観察 ,  光音響顕微鏡 ,  評価