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J-GLOBAL ID：200902269574085390   整理番号：08A0570818

次世代超高性能二次イオン質量分析システムの開発

著者 (5件)： 石原盛男 (大阪大) ,  公文代康祐 (大阪大) ,  身深亮 (九大) ,  内野喜一郎 (九大) ,  圦本尚義 (北大)
資料名： 質量分析総合討論会講演要旨集  (Book of Abstracts. Annual Conference on Mass Spectrometry)
巻： 56th  ページ： 36-37  発行年： 2008年 
JST資料番号： L1264A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *表面分析 ,  *パルスレーザ照射 ,  最適化 ,  光イオン化 ,  *飛行時間法 ,  *TOFスペクトル ,  改変

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  質量分析計  (BD02060M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 次世代 ,  高性能 ,  二次イオン質量分析 ,  開発