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J-GLOBAL ID：200902271690906355   整理番号：04A0504549

超音波原子間力顕微鏡による圧電/強誘電材料における分域境界の評価

Evaluation of Domain Boundary of Piezo/Ferroelectric Material by Ultrasonic Atomic Force Microscopy

著者 (6件)： TSUJI T (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  OGISO H (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  AKEDO J (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  SAITO S (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  FUKUDA K (Tohoku Univ., Miyagi, JPN) ,  YAMANAKA K (Tohoku Univ., Miyagi, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43  号： 5B  ページ： 2907-2913  発行年： 2004年05月30日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記の顕微鏡(UAFM)を使用してジルコニウム酸チタン酸鉛(...

シソーラス用語： 強誘電体 ,...
準シソーラス用語： *PZT【鉛化合物】 ,...

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分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

引用文献 (36件)：

• 1) D. Damjanovic: Rep. Prog. Phys. 61 (1998) 1267.
• 2) P. W. Rehrig, W. S. Hackenberger, S.-E. Park and T. R. Shurout: Piezoelectric Materials in Devices, ed. N. Setter (Ceramics laboratory, EPFL Swiss Federal Institute of Technology, Lausanne 1015, 2002) Chap. 20, p. 433.
• 3) N. Setter: Piezoelectric Materials in Devices, ed. N. Setter Setter (Ceramics laboratory, EPFL Swiss Federal Institute of Technology, Lausanne 1015, 2002) Chap. 1, p. 1.
• 4) S. Stemmer, S. K. Streiffer, F. Ernst and M. Ruhle: Phil. Mag. A 71 (1995) 713.
• 5) P. Guthner and Dransfeld: Appl. Phys. Lett. 61 (1992) 1137.

タイトルに関連する用語 (6件)： 超音波 ,  原子間力顕微鏡 ,  圧電 ,  強誘電材料 ,  分域境界 ,  評価