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J-GLOBAL ID：200902272108070171   整理番号：05A0993693

原子間力顕微鏡による力測定 技術,解釈及び応用

Force measurements with the atomic force microscope: Technique, interpretation and applications

著者 (3件)： BUTT Hans-juergen (Max-Planck-Institute for Polymer Res., D-55128 Mainz, DEU) ,  CAPPELLA Brunero (Federal Inst. for Material Res. and Testing, D-12205 Berlin, DEU) ,  KAPPL Michael (Max-Planck-Institute for Polymer Res., D-55128 Mainz, DEU)
資料名： Surface Science Reports  (Surface Science Reports)
巻： 59  号： 1-6  ページ： 1-152  発行年： 2005年10月 
JST資料番号： E0422B  ISSN： 0167-5729  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子間力顕微鏡(AFM)は高分解能で固体表面のトポグラフィー...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...

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分類 (3件)： 力,仕事量,圧力,摩擦の計測法・機器  (AD05050V) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 原子間力顕微鏡 ,  力測定 ,  応用