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J-GLOBAL ID:200902273948370474   整理番号:09A1173250

SiCを基本とするバイポーラ素子に関する設計と技術的考察:BJT,IGBTおよびGTO

Design and technology considerations for SiC bipolar devices: BJTs, IGBTs, and GTOs
著者 (2件):
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巻: 206  号: 10  ページ: 2431-2456  発行年: 2009年10月 
JST資料番号: D0774A  ISSN: 1862-6300  CODEN: PSSABA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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SiCを基本とするハイパワーのバイポーラ接合型トランジスター(BJT)は,オン-抵抗が低く,通常はオフ状態で,オン状態の抵抗の温度係数が正で,電流利得の温度係数が負で,そしてスイッチング速度が速いという特徴を持つので,最近注目されている。過去数年間に亘って,SiC材料自身やSiCを基本とするパワー素子の性能が急速に改善されてきた。Schottky型ダイオード,JFETおよびMOSFETのようなSiCを基本とするユニポーラ素子が急速に発展し,パワー素子にこれらの素子を組み込むことの利点が明らかにされてきた。しかし,ユニポーラ素子を高電圧下で作動させると,ドリフト層の抵抗が大きいために,オン-状態では大量の熱が発生するという問題が生じる。本稿では,SiCを基本とするオン-抵抗が小さいバイポーラ素子,バイポーラ接合型トランジスター(BJT),絶縁ゲート型バイポーラトランジスター(IGBT)およびゲートターンオフサイリスタ(GTO)の物理と技術的考察について,現状と将来における傾向に重点をおいて概説する。
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