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J-GLOBAL ID：200902274545567851   整理番号：04A0800638

CMOS集積化のhigh-kゲートスタックとの問題

CMOS Integration Issues with High-K Gate Stack
著者 (1件)：
KWONG D-L

KWONG D-L について

(Univ. Texas at Austin, TX)

Univ. Texas at Austin, TX について


資料名：
Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits  (Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits)

Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits について


巻： 11th  ページ： 17-20  発行年： 2004年 
JST資料番号： W1259A  ISSN： 1946-1542  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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シソーラス用語：
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*超LSI

超LSI について

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分類 (2件)：
分類
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半導体集積回路 
(NC03162T)

半導体集積回路 について

,  絶縁材料 
(NA04030W)

絶縁材料 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
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集積化

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ゲートスタック

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