文献

J-GLOBAL ID：200902274750664037   整理番号：05A0994572

集束イオンビーム-走査電子顕微鏡による中空ラテックス粒子の断面解析

Cross-sectional analysis of hollow latex particles by focused ion beam-scanning electron microscopy

著者 (4件)： BEACH Elvin (Materials Sci. and Engineering Dep., The Ohio State Univ., Columbus, OH 43210, USA) ,  KEEFE Melinda (The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA) ,  HEESCHEN William (The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA) ,  ROTHE Deborah (The Dow Chemical Co., Midland, MI 48667, USA)
資料名： Polymer  (Polymer)
巻： 46  号： 25  ページ： 11195-11197  発行年： 2005年11月28日 
JST資料番号： D0472B  ISSN： 0032-3861  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 中空ラテックス粒子の合成技術が発達し,一方,顕微鏡によるミク...

シソーラス用語： *ラテックス ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=05A0994572&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=D0472B") }}

分類 (1件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M)

タイトルに関連する用語 (4件)： 集束イオンビーム ,  走査電子顕微鏡 ,  ラテックス ,  断面解析