単一電子論理回路における新しいタイプの故障

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J-GLOBAL ID：200902276737610435 整理番号：05A0408780

New Type Fault in Single Electron Logic Circuits

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資料名：
巻： J88-D-1 号： 5 ページ： 949-957 発行年： 2005年05月01日
JST資料番号： S0757B ISSN： 0915-1915 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

単一電子論理回路で発生する論理故障をモンテカルロ法を用いて調...

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論理回路 , 固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (8件)：

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