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J-GLOBAL ID：200902276851590487   整理番号：05A0561783

超高電圧電子顕微鏡における厚い傾斜試料の上面-下面影響の測定

Measuring the top-bottom effect of a tilted thick specimen in an ultrahigh-voltage electron microscope
著者 (3件)：
ZHANG Hai-Bo

ZHANG Hai-Bo について

(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)

Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN について

, 
YANG Chao

YANG Chao について

(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)

Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN について

, 
TAKAOKA Akio

TAKAOKA Akio について

(Osaka Univ., Osaka, JPN)

Osaka Univ., Osaka, JPN について


資料名：
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

Review of Scientific Instruments について


巻： 76  号： 5  ページ： 056106.1-056106.4  発行年： 2005年05月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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360°傾斜可能な保持具で傾斜させた5μm厚非晶質試料の表面...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*高圧電子顕微鏡

高圧電子顕微鏡 について

,...
準シソーラス用語：
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電子トモグラフィー

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分類 (2件)：
分類
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顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

,  図形・画像処理一般 
(JE04010I)

図形・画像処理一般 について

タイトルに関連する用語 (2件)：
タイトルに関連する用語
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高電圧電子顕微鏡

高電圧電子顕微鏡 について

, 
試料

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