文献

J-GLOBAL ID：200902278910936417   整理番号：08A0365163

走査型トンネル分光法の基礎

著者 (1件)： 富取正彦 (北陸先端科学技術大学院大)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 43  号： 1  ページ： 46-49  発行年： 2008年03月31日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型トンネル顕微鏡について基礎的な原理を解説した。トンネル電流について,トンネル効果の概念を図により示し,モデルに基づいてトンネル電流の定式化を提示した。さらに,トンネル電流の変化および試料の電子状態密度変化を,走査型トンネル顕微鏡の映像と対応させて,2次元マッピング映像の原理を解説した。

シソーラス用語： *トンネル分光法 ,  スペクトロスコピー ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  電流 ,  *トンネル効果 ,  *モデル ,  写像 ,  *映像
準シソーラス用語： 走査型トンネル分光法 ,  走査型トンネル電子顕微鏡 ,  トンネル電流 ,  マッピング

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

引用文献 (17件)：

• BINNIG, G. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 120
• CHEN, C. J. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy. 2008
• WIESENDANGER, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Methods and Applications. 1994
• 阪東寛. STM. 物性測定の進歩. 1997, I, 205-281
• 河津璋編. ナノテクノロジーのための走査型プローブ顕微鏡. 2002

タイトルに関連する用語 (2件)： 走査型トンネル分光法 ,  基礎