文献

J-GLOBAL ID：200902280040421569   整理番号：03A0777465

電子衝撃による特性X線,連続X線,そして蛍光X線発生のモンテカルロモデリング

Monte Carlo Modeling of Generation of Characteristic, Continuous and Fluorescent X-rays by Electron Impact

著者 (6件)： NAGATOMI T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HIBI T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TAKAI Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OBORI K (Horiba Ltd., Kyoto, JPN) ,  AWATA S (Horiba Ltd., Kyoto, JPN) ,  YURUGI T (Horiba Ltd., Kyoto, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 42  号： 10  ページ： 6663-6671  発行年： 2003年10月15日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子衝撃で発生したX線スペクトルの絶対強度を計算するモンテカ...

シソーラス用語： アルミニウム ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=03A0777465&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0520B") }}

分類 (2件)： X線スペクトル一般  (BM08101P) ,  X線技術  (BA02060D)

引用文献 (23件)：

• 1) D. C. Joy: Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis (Oxford University Press, New York, 1995) p. 174.
• 2) D. C. Joy: J. Microsc. 191 (1998) 74.
• 3) E. Acosta, X. Llovet, E. Coleoni, J. A. Riveros and F. Salvat: J. Appl. Phys. 83 (1998) 6038.
• 4) Y. Namito and H. Hirayama: Nucl. Instrum. Methods A 423 (1999) 238.
• 5) M. Yasuda, S. Yamauchi, H. Kawata and K. Murata: J. Appl. Phys. 92 (2002) 3404.

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子衝撃 ,  特性X線 ,  連続X線 ,  蛍光X線 ,  モンテカルロ ,  モデリング