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J-GLOBAL ID：200902280762663907   整理番号：03A0336300

組成の関数としてのPb(Zr_1-xTi_x)O₃薄膜の圧電特性に対する内因性および外因性寄与の評価

Evaluation of intrinsic and extrinsic contributions to the piezoelectric properties of Pb(Zr_1-XT_X)O₃ thin films as a function of composition

著者 (4件)： KIM D-J (North Carolina State Univ., North Carolina) ,  MARIA J-P (North Carolina State Univ., North Carolina) ,  KINGON A I (North Carolina State Univ., North Carolina) ,  STREIFFER S K (Argonne National Lab., Illinois)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 93  号： 9  ページ： 5568-5575  発行年： 2003年05月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 強く(111)配向した多結晶PZT薄膜(200nm厚)の圧電...

シソーラス用語： *圧電気 ,...
準シソーラス用語： *PZT【鉛化合物】 ,...

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分類 (2件)： 圧電気,焦電気,エレクトレット  (BM05040M) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (8件)： 組成 ,  関数 ,  Pb ,  O3 ,  薄膜 ,  圧電特性 ,  内因性 ,  評価