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J-GLOBAL ID：200902281197577577   整理番号：08A0605388

Ni上に電析したPb単分子層のXAFSスペクトル測定の試み

著者 (8件)： 瀬尾眞浩 (北大 大学院工学研究科) ,  伏見公志 (北大 大学院工学研究科) ,  幅崎浩樹 (北大 大学院工学研究科) ,  世木隆 (コベルコ科研) ,  河野研二 (コベルコ科研) ,  横溝臣智 (コベルコ科研) ,  稲葉雅之 (コベルコ科研) ,  中山武典 (神戸製鋼所 材料研)
資料名： 材料と環境講演集  (Proceedings of JSCE Materials and Environments)
巻： 2008  ページ： 317-318  発行年： 2008年04月25日 
JST資料番号： S0520C  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： ニッケル合金 ,  *ニッケル ,  電着 ,  *鉛 ,  単分子層 ,  XAFS ,  X線吸収スペクトル ,  金網 ,  電極 ,  アンダポテンシャル電着 ,  腐食 ,  純金属 ,  XANES ,  電流電圧特性 ,  吸収端 ,  分極曲線 ,  物
準シソーラス用語： アンダーポテンシャル析出

分類 (1件)： 腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

タイトルに関連する用語 (7件)： Ni ,  電析 ,  Pb ,  単分子層 ,  XAFS ,  スペクトル測定 ,  試み