BROSSELARD P. について
CSIC, Barcelona, ESP について
PEREZ.TOMAS A. について
CSIC, Barcelona, ESP について
CAMARA N. について
CSIC, Barcelona, ESP について
HASSAN J. について
Norstel AB, Linkoeping, SWE について
JORDA X. について
CSIC, Barcelona, ESP について
VELLVEHI M. について
CSIC, Barcelona, ESP について
GODIGNON P. について
CSIC, Barcelona, ESP について
MILLAN J. について
CSIC, Barcelona, ESP について
BERGMAN J.P. について
Norstel AB, Linkoeping, SWE について
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs について
バンドギャップ について
PINダイオード について
炭化ケイ素 について
エピタクシー について
オン抵抗 について
漏れ電流 について
スイッチング素子 について
パワーエレクトロニクス について
4H-SiC について
エピタキシャル成長 について
ブレークダウン電圧 について
ワイドバンドギャップ について
ダイオード について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
4H-SiC について
PINダイオード について
バイポーラ について