文献

J-GLOBAL ID：200902282685603800   整理番号：09A0659001

長方形導波路の垂直に広い壁を貫く層状の円柱状物体のための散乱解析およびε_rとμ_r測定への応用

Scattering Analysis for Layered Cylindrical Object Perpendicularly Piercing the Wider Walls of a Rectangular Waveguide and Its Application to ε_r and μ_r Measurement

著者 (1件)： NISHIKATA Atsuhiro (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 57  号： 6  ページ： 1602-1611  発行年： 2009年06月 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 広い壁の中心に作った1組の穴を通して長方形の導波路を貫く層状の円柱状物体の散乱問題のための新しい解析をした。解析において,Sパラメータを円柱状物体のモード散乱係数で厳格に定式化した。層状の物体をアドミッタンス関数によって表示した。漸化式を使用して任意の層数を容易に計算した。提案した解析の適用性を示すために,ε_rとμ_rの測定に適用した。固体の誘電体(ポリテトラフルオロエチレンとポリアセタール)そしてフェライトサンプルの2つのタイプを3.95-5.85 GHzの間で測定し,適正値を得た。脱イオン水の複素誘電率を液体容器としてガラス毛細管を使用して,8.2-12.4GHzの間で測定し,Debyeの方式で予測した値と一致した。

シソーラス用語： 長方形 ,  *導波路 ,  垂直 ,  円柱 ,  *散乱 ,  *解析 ,  計測 ,  モード ,  漸化式 ,  誘電体 ,  フェライト ,  Sパラメータ ,  アドミタンス ,  柱 ,  構造要素
準シソーラス用語： 散乱係数 ,  *測定 ,  *物体

分類 (3件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  システム設計・解析  (IA02030D) ,  電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (7件)： 長方形 ,  導波路 ,  層状 ,  円柱状物体 ,  散乱 ,  解析 ,  応用