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J-GLOBAL ID：200902283512485581   整理番号：09A0392413

X線回折顕微法

著者 (1件)： 西野吉則 (理研 播磨研 放射光科学総合研究セ)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 44  号： 1  ページ： 24-29  発行年： 2009年03月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 革新的なX線顕微法として世界的な注目を集めているX線回折顕微法について解説した。まず,X線回折顕微法の原理を解説した。X線回折顕微法は,回折パターンの試料構造に対する敏感性を利用している。また,X線回折顕微法における位相回復には,情報理論のサンプリング定理が用いられる。ここでは,オーバーサンプリングについて説明した。さらに,この顕微法では,X線回折強度分布データからの位相回復にGerchbergとSaxtonに端を発する反復法を用いる。その反復法を概念図を示して解説した。また,この研究の現状を,材料科学への応用と生物学への応用の観点から述べた。X線回折顕微法の原理は,X線以外のコヒーレントビームにも適用することができる。その一例として,電子回折顕微法について解説した。

シソーラス用語： *X線トポグラフィー ,  *位相回復 ,  情報理論 ,  *標本化定理 ,  電子回折 ,  材料科学 ,  生物学 ,  *X線回折顕微鏡法

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (36件)：

• 1)西野吉則,石川哲也:放射光,19,3-14(2006)
• 2)西野吉則,石川哲也:まてりあ,45,99-105(2006)
• 3)Sayre, D.: Acta Crystallogr., 5,843(1952)
• 4)Miao, J., Charalambous, P., Kirz, J. and Sayre, D.: Nature, 400,342-344(1999)
• 5)Robinson, I.K., Vartanyants, I.A., Williams, G.J., Pfeifer, M.A. and Pitney, J.A.: Phys. Rev. Lett., 87,195505(2001)