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J-GLOBAL ID：200902285406875560   整理番号：06A0447526

位相コントラスト技法による1Å解像度化学撮像

1 A-resolution chemical imaging by phase contrast technique
著者 (5件)：
IWAMOTO C.

IWAMOTO C. について

(Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN)

Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN について

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STATONAKA S.

STATONAKA S. について

(Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN)

Dep. of Mechanical Engineering and Materials Sci., Kumamoto Univ., 39-1 Kurokami 2-chome, Kumamoto 860-8555, JPN について

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YAMAMOTO T.

YAMAMOTO T. について

(Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN)

Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN について

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IKUHARA Y.

IKUHARA Y. について

(Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN)

Engineering Res. Inst., School of Engineering, Univ. of Tokyo, 2-11-16 Yayoi, Bunkyo-ku, Tokyo 113-8656, JPN について

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MATSUHATA H.

MATSUHATA H. について

(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN)

National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST) Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, JPN について


資料名：
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

Journal of Applied Physics について


巻： 99  号： 10  ページ： 104909-104909-6  発行年： 2006年05月15日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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GaN/AlN/AlGaN層の化学組成をマップする目的で原子...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*窒化ガリウム

窒化ガリウム について

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シソーラス用語/準シソーラス用語
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化学撮像

化学撮像 について

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分類 (2件)：
分類
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顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

,  半導体薄膜 
(BK14040E)

半導体薄膜 について

タイトルに関連する用語 (5件)：
タイトルに関連する用語
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位相コントラスト

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技法

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解像度

解像度 について

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化学

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, 
撮像

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