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J-GLOBAL ID：200902285533693012   整理番号：03A0213079

新しい評価法による自己集合勾配ナノ粒子-高分子多層の研究 微小ビームすれすれ入射X線散乱

Self-assembled gradient nanoparticle-polymer multilayers investigated by an advanced characterization method: Microbeam grazing incidence x-ray scattering.

著者 (7件)： ROTH S V (European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA) ,  BURGHAMMER M (European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA) ,  RIEKEL C (European Synchrotron Radiation Facility ESRF, Grenoble, FRA) ,  MUELLER-BUSCHBAUM P (TU Muenchen, Garching, DEU) ,  DIETHERT A (TU Muenchen, Garching, DEU) ,  PANAGIOTOU P (TU Muenchen, Garching, DEU) ,  WALTER H (November AG, Erlangen, DEU)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 82  号： 12  ページ： 1935-1937  発行年： 2003年03月24日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： すれすれ入射小角X線散乱法とμmサイズビームのユニークな組み...

シソーラス用語： 自己組織化 ,...
準シソーラス用語： 微細ビーム

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分類 (1件)： 金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (11件)： 評価法 ,  自己集合 ,  勾配 ,  ナノ粒子 ,  高分子 ,  多層 ,  研究 ,  微小 ,  ビーム ,  すれすれ入射 ,  X線散乱