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J-GLOBAL ID：200902286340168588   整理番号：08A0218343

常磁性相のCeRu₂X₂(X=Si,Ge)の電子構造の軟X線ARPESおよび硬X線光電子分光による研究

Electronic structure of CeRu₂X₂ (X=Si,Ge) in the paramagnetic phase studied by soft x-ray ARPES and hard x-ray photoelectron spectroscopy

著者 (13件)： YANO M. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SEKIYAMA A. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  FUJIWARA H. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  AMANO Y. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  IMADA S. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MURO T. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  YABASHI M. (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  YABASHI M. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  TAMASAKU K. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  HIGASHIYA A. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  ISHIKAWA T. (RIKEN, Hyogo, JPN) ,  ONUKI Y. (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SUGA S. (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 77  号： 3  ページ： 035118.1-035118.8  発行年： 2008年01月 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 軟X線と硬X線の光電子分光により,重いフェルミオン系CeRu₂Si₂と4f局在強磁性体CeRu₂Ge₂の常磁性相を調べた。Si系の3次元バンド構造とFermi面を軟X線の角度分解光電子分光により決定した。Si系とGe系のFermi面と非4f電子構造の違いは,各々,4f遍歴模型と局在模型でバンド構造を計算して説明した。20KにおけるCe原子価は単一不純物Anderson模型の計算で評価した。Ce 3d硬X線内殻準位PESとCe 3d X線吸収スペクトルから,Siの方が混成が強く,伝導電子への4fの寄与があることを示した。

シソーラス用語： *セリウム含有合金 ,  ルテニウム合金 ,  ケイ素含有合金 ,  ゲルマニウム含有合金 ,  金属間化合物 ,  重いFermi系 ,  強磁性体 ,  軟X線 ,  角度分解分光法 ,  *X線光電子スペクトル ,  *X線吸収スペクトル ,  常磁性 ,  バンド構造 ,  Fermi面 ,  Anderson模型 ,  原子価 ,  内殻準位 ,  配位混合 ,  遍歴電子模型
準シソーラス用語： 巡回電子模型

分類 (2件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (7件)： 磁性相 ,  Ge ,  電子構造 ,  軟X線 ,  ARPES ,  硬X線光電子分光 ,  研究