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J-GLOBAL ID：200902286426274801   整理番号：06A0127306

永久磁石法を使ったHTS薄膜における臨界電流密度の高速で簡単な測定

Rapid and simple measurement of critical current density in HTS thin films using a permanent magnet method

著者 (8件)： SAITO A. (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  TAKEISHI K. (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  TAKANO Y. (Tohoku Seiki Ind., LTD., Yamagata, JPN) ,  NAKAMURA T. (Tohoku Seiki Ind., LTD., Yamagata, JPN) ,  YOKOO M. (Tohoku Seiki Ind., LTD., Yamagata, JPN) ,  MUKAIDA M. (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  HIRANO S. (Yamagata Univ., Yamagata, JPN) ,  OHSHIMA S. (Yamagata Univ., Yamagata, JPN)
資料名： Physica C. Superconductivity and Its Applications  (Physica C. Superconductivity and Its Applications)
巻： 426-431  号： Part 2  ページ： 1122-1126  発行年： 2005年10月01日 
JST資料番号： T0580A  ISSN： 0921-4534  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： 永久磁石 ,  HTS ,  薄膜 ,  臨界電流密度