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J-GLOBAL ID：200902286518155132   整理番号：04A0428695

システムオンチップLSIの効率的なコアテスティングのためのコア間ベクトルオーバラッピング法の提案

Between-Core Vector Overlapping for Efficient Core Testing of System-On-Chip LSI Circuits

著者 (5件)： 篠木剛 (三重大 工) ,  山田裕貴 (三重大 工) ,  林照峯 (三重大 工) ,  吉川大弘 (三重大 工) ,  鶴岡信治 (三重大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J87-D-1  号： 6  ページ： 702-711  発行年： 2004年06月01日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では,複数のフルスキャンコアから構成されるシステムオン...

シソーラス用語： *超LSI ,...
準シソーラス用語： SoC ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (15件)：

• MOURAD, S. Principles of Testing Electronic Systems. 2000
• VRANKEN, H. Enhanced reduced pin-count test for full-scan design. International Test Conference, 2001. 2001, 738-747
• BARNHART, C. OPMISR : The foundation for compressed ATPG vectors. International Test Conference, 2001. 2001, 748-757
• 小西秀明. ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法. 信学技報. 2002, FTS2001-78
• KAJIHARA, S. On identifying don't care inputs of test patterns for combinational circuits. International Conference on Computer-Aided Design, 2001. 2001, 364-369

タイトルに関連する用語 (4件)： システムオンチップ ,  LSI ,  コア ,  提案