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J-GLOBAL ID：200902287792201473   整理番号：03A0469582

先端ナノヘテロ金属組織解析手法 第15回 アトムプローブ分析法:電界イオン顕微鏡

Advanced characterization techniques of metallic nanostructures (15) “Atom probe microanalysis-Field Ion Microscopy”

著者 (1件)： 宝野和博 (物質・材料研究機構 材料研)
資料名： 金属  (Materials Science & Technology)
巻： 73  号： 7  ページ： 679-686  発行年： 2003年07月01日 
JST資料番号： F0157A  ISSN： 0368-6337  CODEN： KNZKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： まずアトムプローブ法の基本となる電界イオン化と電界蒸発の基礎...

シソーラス用語： *金属組織 ,...
準シソーラス用語： アトムプローブ電界イオン顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 金属組織観察法  (WB01010R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 金属組織 ,  解析手法 ,  アトムプローブ ,  分析法 ,  電界イオン顕微鏡