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J-GLOBAL ID：200902287820028790   整理番号：06A1021382

小角X線散乱と複数プローブの同時測定による結晶性高分子材料の階層的高次構造の形成過程の研究

Formation process of hierarchical structures in crystalline polymers as analyzed by simultaneous measurements of small-angle X-ray scattering and other techniques

著者 (2件)： 山本勝宏 (名古屋工大 大学院工学研究科) ,  櫻井伸一 (京都工繊大 大学院工芸科学研究科)
資料名： 放射光  (日本放射光学会誌)
巻： 19  号： 6  ページ： 384-393  発行年： 2006年11月30日 
JST資料番号： L0956A  ISSN： 0914-9287  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 小角・広角X線散乱と示差走査熱量測定との同時測定,または偏光...

シソーラス用語： 小角X線散乱 ,...
準シソーラス用語： ブロックコポリマ ,...

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分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (34件)：

• CHU, B. Chem. Rev. 2001, 101, 1727
• BATES, F. S. Macromolecules. 1994, 27, 5934
• OKAMOTO, S. Macromolecules. 1994, 27, 3753
• OKAMOTO, S. Macromolecules. 1994, 27, 5547
• BRAS, W. Science. 1995, 267, 5200, 996

タイトルに関連する用語 (7件)： 小角X線散乱 ,  プローブ ,  同時測定 ,  結晶性高分子 ,  高次構造 ,  形成過程 ,  研究