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J-GLOBAL ID:200902287897028351   整理番号:07A0799318

半導体パッケージ技術の最新動向 パッケージ組み立てにおける最新加工技術 フリップチップ接続技術の最新動向

著者 (1件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 415-422  発行年: 2007年08月01日 
JST資料番号: S0579C  ISSN: 1343-9677  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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フリップチップ接続技術の技術動向を紹介した。現在のフリップチ...
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分類 (3件):
分類
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半導体集積回路  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  接続部品 
引用文献 (8件):
  • MILLER, L. F. Controlled Collapse Reflow Chip Joining. IBM Journal of Research and Development. 1969, 13, 239-250
  • RUHMER, K. C4NP : New Solder Bumping Technology-Low Cost and Lead Free. IMAPS Flip Chip Advanced Technology Workshop, Austin, TX, June 2005. 2005
  • LONGFORD, A. Copper Pillar Bumping in Intel Microprocessors-One Approach to Lead Free. Semicon Europa 2006-Munich, Germany, April. 2006
  • YEOH, A. Copper Die Bumps (First Level Interconnect) and Low-K Dielectrics in 65nm High Volume Manufacturing. Proceeding of the 2005 ECTC. 2005, 1611-1615
  • ODEGARD, C. Dielectric Integrity Test for Flip-Chip Devices with Cu/Low-K Interconnects. Proceedings of the IEEE 2005 Electronic Components and Technology Conference. 2005, 1167
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タイトルに関連する用語 (5件):
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