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J-GLOBAL ID：200902287983605078   整理番号：09A0920128

高濃度にドープしたn型SrTiO₃バルク材料の熱電特性

Thermoelectric Properties of Heavily Doped n-Type SrTiO₃ Bulk Materials

著者 (6件)： CUI Yanjie (Univ. Waterloo, ON, CAN) ,  SALVADOR James R. (General Motors Res. & Dev. Center, MI, USA) ,  YANG Jihui (General Motors Res. & Dev. Center, MI, USA) ,  WANG Hsin (Oak Ridge National Lab., TN, USA) ,  AMOW Gisele (Defence Res. and Dev. Canada, ON, CAN) ,  KLEINKE Holger (Univ. Waterloo, ON, CAN)
資料名： Journal of Electronic Materials  (Journal of Electronic Materials)
巻： 38  号： 7  ページ： 1002-1007  発行年： 2009年07月 
JST資料番号： D0277B  ISSN： 0361-5235  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： n型半導体酸化物はp型のものと比べて無次元性能指数ZTが小さい。本稿はSrTiO₃の熱電(TE)性能最適化を目的とする。Taを高濃度にドープした3種類のチタン酸ストロンチウム(SrTi_1-xTa_xO₃:x=0.05,0.10.0.14)を用意した。これらの多結晶サンプルを粉末X線回折,電子プローブマイクロ解析(EPMA)によって調べ,高温におけるSeebeck係数,電気伝導率,熱伝導率の測定結果を示した。x=0.14の場合Taは均一に分布していないことがわかった。x=0.05と0.10の場合ZTの値は温度上昇と伴に高くなり,SrTi_0.90Ta_0.10O₃のZTは752Kで0.17になった。より高温ではさらに高いZT値が期待できる。

シソーラス用語： 熱電材料 ,  酸化物 ,  電子プローブX線分析 ,  特性 ,  輸送現象 ,  *チタン酸ストロンチウム ,  性能指数 ,  タンタル ,  X線回折 ,  輸送係数 ,  *電気伝導率 ,  *熱伝導率 ,  *Seebeck係数
準シソーラス用語： 輸送特性

分類 (1件)： 熱電デバイス  (NC03090J)

タイトルに関連する用語 (4件)： 高濃度 ,  ドープ ,  バルク材料 ,  熱電特性