文献

J-GLOBAL ID：200902288840009926   整理番号：08A0403306

少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価

A Functional Unit with Small Variety of Highly Reliable Cells and Its Evaluation

著者 (5件)： 鈴木一範 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中田尚 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中西正樹 (奈良先端科学技術大学院大) ,  山下茂 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中島康彦 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 107  号： 558(CPSY2007 80-116)  ページ： 167-172  発行年： 2008年03月20日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年のトランジスタ製造プロセスの微細化によって,トランジスタの故障率の増加が無視できない問題となっている。故障率の増加を抑える手法として,我々はトランジスタが規則的に配置されたセルを提案した。このセルはPMOSとNMOSを組み合わせたものを基本単位として構成されている。我々の提案したセルは,従来のセルに比べて壊れにくく,また故障を検出する機能を備えている。本論文ではこのセルで構成された演算器の提案および評価を行った。提案した演算器は,従来のセルで構成された演算器とトランジスタ数がほぼ同等でありながら,耐故障性に優れていることが分かった。(著者抄録)

シソーラス用語： *演算器 ,  *トランジスタ ,  故障率 ,  *故障検出 ,  *MOS構造 ,  *NMOS構造 ,  配置設計 ,  フォールトトレランス
準シソーラス用語： NMOS ,  PMOS ,  *PMOS構造 ,  耐故障性

分類 (4件)： 演算方式  (JC02020Z) ,  トランジスタ  (NC03070N) ,  信頼性  (KB04040H) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： 品種 ,  信頼 ,  セル ,  演算器 ,  提案 ,  評価