GaN(0001)/HfO<sub>2</sub>界面のバンドオフセット測定

COOK T E JR; FULTON C C; MECOUCH W J; DAVIS R F; LUCOVSKY G; NEMANICH R J

文献

J-GLOBAL ID：200902290549152716 整理番号：03A0855024

GaN(0001)/HfO₂界面のバンドオフセット測定

Band offset measurements of the GaN (0001)/HfO₂ interface

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資料名：
巻： 94 号： 11 ページ： 7155-7158 発行年： 2003年12月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

清浄なn型Ga面のGaN(0001)面上にHfO<sub>2...

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表面の電子構造

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GaN(0001)/HfO2界面のバンドオフセット測定

GaN(0001)/HfO₂界面のバンドオフセット測定