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J-GLOBAL ID：200902290723336252   整理番号：06A0997442

マイクロ波帯における誘電体基板の一軸異方性複素誘電率の周波数依存性測定

Frequency Dependence Measurements of Uniaxial-Anisotropic Complex Permittivity of Dielectric Substrates in the Microwave Range

著者 (3件)： 蓮池健一 (埼玉大 工) ,  川端広一 (群馬県群馬産技セ) ,  小林禧夫 (埼玉大 工)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 C  (IEICE Transactions on Electronics (Japanese Edition))
巻： J89-C  号： 12  ページ： 1039-1046  発行年： 2006年12月01日 
JST資料番号： S0623C  ISSN： 1345-2827  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 誘電体積層基板はマイクロ波平面回路を設計する際に広く利用され...

シソーラス用語： *誘電体 ,...

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分類 (1件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

引用文献 (17件)：

• 于 静, 小林禧夫, “MIC誘電体基板の複素誘電率異法性の温度依存性測定, ”信学技報, MW91-94, Oct.1991.
• Y. Kobayashi and J. Yu, “Temperature-dependence measurement of anisotropic complex permittivity for MIC dielectric substrate,” 1992 Asia-Pacific Microwave Conf. Proc., pp. 859-862, Aug.1992.
• 小林禧夫, 佐藤純也, “空洞共振器法による誘電体平板材料の複素誘電率の非破壊測定, ”信学技報, MW87-53, Oct.1987.
• Y. Kobayashi, and J. Sato, “Complex permittivity measurement of dielectric plates by a cavity resonance method,” IEICE Technical Report, MW88-40, EMC88-58, Dec.1988.
• 加屋野博幸, 榊原孝彰, 小林禧夫, “空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率の温度特性の自動測定, ”信学技報, SAT91-82, MW91-75, Nov.1991.

タイトルに関連する用語 (6件)： マイクロ波帯 ,  誘電体基板 ,  一軸 ,  異方性 ,  複素誘電率 ,  周波数依存性