純粋およびアンモニアが吸着した水薄膜の表面特性に与えるヘリウムイオン照射の影響

KONDO M.; KONDO M.; SHIBATA T.; SHIBATA T.; KAWANOWA H.; KAWANOWA H.; GOTOH Y.; SOUDA R.; SOUDA R.

文献

J-GLOBAL ID：200902290798197827 整理番号：05A0521897

純粋およびアンモニアが吸着した水薄膜の表面特性に与えるヘリウムイオン照射の影響

Influence of helium-ion bombardment on the surface properties of pure and ammonia-adsorbed water thin films

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Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)

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巻： 232 号： 1-4 ページ： 140-145 発行年： 2005年05月
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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水氷膜の表面特性へのイオン照射効果を調べた。膜に1.5keV...

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