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J-GLOBAL ID：200902291754369996   整理番号：05A0685969

低線形性入力信号を用いたヒストグラム試験によるADCのディジタル自己較正アルゴリズム

A Digital Self-Calibration Algorithm for ADCs Based on Histogram Test Using Low-Linearity Input Signals

著者 (3件)： JIN Le (Iowa State Univ., IA, USA) ,  CHEN Degang (Iowa State Univ., IA, USA) ,  GEIGER Randall (Iowa State Univ., IA, USA)
資料名： IEEE International Symposium on Circuits and Systems  (IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻： 2005 Vol.2  ページ： 1378-1381  発行年： 2005年 
JST資料番号： A0757A  ISSN： 0271-4302  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 著者等が既報で述べたSEIR法では,まずADCにランプ入力を...

シソーラス用語： *AD変換 ,...

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分類 (1件)： AD・DA変換回路  (NC05080M)

タイトルに関連する用語 (9件)： 線形性 ,  入力信号 ,  ヒストグラム ,  試験 ,  ADC ,  ディジタル ,  自己 ,  較正 ,  アルゴリズム