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J-GLOBAL ID：200902291980877236   整理番号：06A0571482

陽電子消滅法を用いためっき銅中の格子欠陥の研究

著者 (6件)： 宍戸逸朗 (大阪大 大学院工学研究科) ,  松尾明彦 (大阪大 工) ,  豊山裕万 (大阪大 大学院工学研究科) ,  水野正隆 (大阪大 大学院工学研究科) ,  荒木秀樹 (大阪大 大学院工学研究科) ,  白井泰治 (大阪大 大学院工学研究科)
資料名： マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集  (エレクトロニクス実装学会秋季大会論文集)
巻： 15th  ページ： 349-352  発行年： 2005年10月13日 
JST資料番号： X0060A  ISSN： 2434-396X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 陽電子消滅 ,...

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分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 陽電子消滅法 ,  めっき ,  銅 ,  格子欠陥 ,  研究