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J-GLOBAL ID：200902296181273559   整理番号：05A0532899

電子ビームリソグラフィーを利用しないで作製した単一分子サイズのギャップ接合を用いた分子伝導率の測定

Measuring Molecular Conductivities Using Single Molecular-Sized Gap Junctions Fabricated without Using Electron Beam Lithography

著者 (4件)： NAITOH Yasuhisa (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  LIANG Tien-Tzu (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  AZEHARA Hiroaki (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN) ,  MIZUTANI Wataru (National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻： 44  号： 12-15  ページ： L472-L474  発行年： 2005年04月10日 
JST資料番号： F0599B  ISSN： 0021-4922  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子ビームリソグラフィーを利用しないでバックゲート型サブ5n...

シソーラス用語： *分子素子 ,...
準シソーラス用語： ギャップ接合

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分類 (1件)： 有機化合物の電気伝導  (BM03045F)

物質索引 (1件)： 1,4-ビス[2-[4-[(アセチルチオ)メチル]フェニル]エテニル]ベンゼン

引用文献 (16件)：

• 1) M. A. Reed, C. Zhou, C. J. Muller, T. P. Burgin and J. M. Tour: Science 278 (1997) 252.
• 2) H. Park, J. Park, A. Andrew, K. L. Lim, Erik H. Anderson, A. Paul Alivisatos and P. L. McEuren: Nature 407 (2000) 57.
• 3) J. Park, A. N. Pasupathy, J. I. Goldsmiths, C. Chang, Y. Yaish, J. R. Petta, M. Rinkoski, J. P. Sethna, H. D. Abrunas, P. L. McEuren and D. C. Ralph: Nature 417 (2002) 722.
• 4) W. Liang, M. P. Shores, M. Bockrath, J. R. Long and H. Park: Nature 417 (2002) 725.
• 5) S. Kubatkin, A. Danilov, M. Hjort, J. Cornil, J.-L. Bredas, N. Stuhr-Hansen, P. Hedegard and T. Bjornholm: Nature 425 (2003) 698.

タイトルに関連する用語 (7件)： 電子ビームリソグラフィー ,  作製 ,  単一分子 ,  サイズ ,  ギャップ接合 ,  分子 ,  伝導率