特許
J-GLOBAL ID：200903000339300556
CT装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
丸岡 裕作
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-317686
公開番号（公開出願番号）：特開平9-161041
出願日： 1995年12月06日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：
【要約】【課題】 投影方向が少なくても良好な画像が得られ、高速処理が可能で安価な装置とする。【解決手段】 X線等の透過線を観測対象物Sに対して放射する透過線放射部2及び透過線を検知して投影値を検出する投影値検出部3を有し、観測対象物Sに透過させる予め定めた複数の異なる透過経路における投影値を提供する投影値提供手段1と、この提供された投影値と対応する透過経路との関係に係る投影行列を作成する投影行列作成手段4と、上記予め定めた複数の異なる透過経路と格子状に区切られた計算空間の夫々の画素が上記予め定めた透過経路を透過線が通ったときの投影値に及ぼす各画素毎の影響係数との関係を行列表示した投影モデル行列を、特異値分解して予め算出した一般化逆行列を記憶する投影モデル一般化逆行列記憶手段5と、上記投影行列と一般化逆行列との行列積演算を行ない画像表示のためのデータとする行列積演算手段6とを備えた。
請求項（抜粋）：
観測対象物を透過する電磁波,粒子線,超音波等の透過線を該観測対象物に対して放射する透過線放射部及び上記観測対象物を透過した透過線を検知して当該透過線に係る投影値を検出する投影値検出部を有するとともに、上記観測対象物に透過させる予め定めた複数の異なる透過経路における投影値を提供する投影値提供手段と、上記投影値提供手段が提供した投影値と該投影値に対応する透過経路との関係を行列表示した投影行列を作成する投影行列作成手段と、上記予め定めた複数の異なる透過経路と格子状に区切られた計算空間の夫々の画素が上記予め定めた透過経路を透過線が通ったときの投影値に及ぼす各画素毎の影響の度合いである影響係数との関係を行列表示した投影モデル行列を、特異値分解して予め算出した一般化逆行列を記憶する投影モデル一般化逆行列記憶手段と、上記投影行列作成手段が作成した投影行列と上記投影モデル一般化逆行列記憶手段が記憶した一般化逆行列との行列積演算を行ない該演算結果を画像表示のためのデータとする行列積演算手段とを備えたことを特徴とするCT装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 390 B
, G01N 23/04
