特許
J-GLOBAL ID:200903000409785056
自動分析装置及び化学分析方法の精度管理方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-249733
公開番号(公開出願番号):特開2003-057248
出願日: 2001年08月21日
公開日(公表日): 2003年02月26日
要約:
【要約】【課題】自動分析装置に異常が生じた場合の早期発見および異常原因の特定を行って、迅速な対応および処置を行えるようにする。【解決手段】既知濃度の精度管理用試料の装置動作正常時と各種異常時の反応過程吸光度の全測光点および任意の測光点の吸光度、あるいは、各測光点から算出した吸光度差や変化量および吸光度のばらつきを予め登録しておき、検体測定時に定期的あるいは任意に測定する精度管理用試料の反応過程吸光度と比較判定することによって、装置が正常か異常かを判断し、さらに、異常であった場合に、比較判定で適合した反応過程吸光度のパターンから異常個所を特定し画面に不良内容と処置のしかたを表示するように制御する。
請求項(抜粋):
被検試料を収容する試料容器と、該試料に添加する試薬を収容する試薬容器と、該試料と該試薬を反応させる反応容器と、該反応容器中での反応を反応液の吸光度変化で測定する光度計を備えた自動分析装置において、既知濃度の精度管理用試料の測光点の任意の測光点間の吸光度差,吸光度変化量,2区間における吸光度変化量の差,吸光度変化量の比率,任意の区間の測光点から算出される吸光度のばらつき、から選ばれた少なくとも一つの吸光度の変化パターンを予め記憶させた記憶部と、該変化パターンと、精度管理用試料の反応過程吸光度変化を比較する演算処理部を備え、更に、比較の結果、該精度管理用試料の測定結果に異常がある場合には、異常の原因を表示するように表示装置を制御する制御部と、該制御部からの指示に応じて異常の原因を表示する表示装置を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (3件):
G01N 35/00
, G01N 21/27
, G01N 35/02
FI (3件):
G01N 35/00 F
, G01N 21/27 F
, G01N 35/02 G
Fターム (22件):
2G058CA01
, 2G058CB03
, 2G058CC03
, 2G058CD04
, 2G058GA03
, 2G058GE09
, 2G058GE10
, 2G059AA01
, 2G059BB13
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE01
, 2G059FF08
, 2G059MM03
, 2G059MM10
, 2G059MM19
, 2G059NN05
, 2G059NN07
, 2G059PP02
, 2G059PP03
, 2G059PP04
, 2G059PP05
引用特許:
出願人引用 (5件)
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分析装置の分析過程確認方法、および自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-083278
出願人:オリンパス光学工業株式会社
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-285607
出願人:株式会社日立製作所
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-270943
出願人:株式会社日立製作所
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特開平4-329358
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特開昭61-218949
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審査官引用 (8件)
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