特許
J-GLOBAL ID:200903000420342476
イオンビーム分析方法およびイオンビーム分析装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (2件):
藤田 考晴
, 上田 邦生
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-120315
公開番号(公開出願番号):特開2005-300454
出願日: 2004年04月15日
公開日(公表日): 2005年10月27日
要約:
【課題】 重水素の計測を可能にしたイオンビーム分析装置を提供する。【解決手段】 試料10に7Liイオンビームを照射する加速器5と、試料10に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を検出するγ線検出器7と、γ線検出器7によって検出されたγ線量に基づいて、試料10に含まれる重水素の存在量を算出する演算手段とを備えていることを特徴とする。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
試料に7Liイオンビームを照射し、
前記試料に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を計測し、
計測されたγ線量から前記試料に含まれる重水素を測定することを特徴とするイオンビーム分析方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (24件):
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA06
, 2G001EA01
, 2G001FA02
, 2G001GA04
, 2G001GA06
, 2G001GA13
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001JA07
, 2G001JA12
, 2G001KA01
, 2G001KA11
, 2G001MA05
, 2G001PA11
, 2G001PA12
, 2G001PA13
, 2G001PA30
, 2G001SA02
, 2G001SA29
, 2G001SA30
引用特許: