特許

J-GLOBAL ID：200903000420342476

イオンビーム分析方法およびイオンビーム分析装置

発明者： 伊藤 岳彦 ,  岩村 康弘 ,  坂野 充 ,  栗林 志頭真 ,  岡野 達雄 ,  福谷 克之
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社 ,  東京大学長
代理人 (2件)： 藤田 考晴 ,  上田 邦生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-120315
公開番号（公開出願番号）：特開2005-300454
出願日： 2004年04月15日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：

【課題】 重水素の計測を可能にしたイオンビーム分析装置を提供する。【解決手段】 試料10に7Liイオンビームを照射する加速器5と、試料10に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を検出するγ線検出器7と、γ線検出器7によって検出されたγ線量に基づいて、試料10に含まれる重水素の存在量を算出する演算手段とを備えていることを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試料に7Liイオンビームを照射し、 前記試料に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を計測し、 計測されたγ線量から前記試料に含まれる重水素を測定することを特徴とするイオンビーム分析方法。

IPC (2件)：

G01N23/22 ,  G21K5/04

FI (2件)：

G01N23/22 ,  G21K5/04 A

Fターム (24件)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA06 ,  2G001EA01 ,  2G001FA02 ,  2G001GA04 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA07 ,  2G001JA12 ,  2G001KA01 ,  2G001KA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001PA13 ,  2G001PA30 ,  2G001SA02 ,  2G001SA29 ,  2G001SA30

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開平4-280052
  
• レーザ発振器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-134583   出願人：三菱重工業株式会社
• 拡散材料の表面反応過程分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-220387   出願人：三菱重工業株式会社

審査官引用 (4件)

• 特開平4-280052
  
• レーザ発振器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-134583   出願人：三菱重工業株式会社
• 拡散材料の表面反応過程分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-220387   出願人：三菱重工業株式会社
• 特開平4-280052
  

引用文献：

出願人引用 (2件)

• “共鳴核反応法による表面近傍ナノ領域での水素の研究”
• “THE SECOND T=3/2 STATE OF Be9 - Remarks on the A=9 System”