特許

J-GLOBAL ID：200903000502310327

電磁波検出装置および検出方法

発明者： 河野 俊介 ,  谷 正彦 ,  阪井 清美
出願人/特許権者： 独立行政法人通信総合研究所
代理人 (1件)： 福井 國敞 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-051715
公開番号（公開出願番号）：特開2002-257629
出願日： 2001年02月27日
公開日（公表日）： 2002年09月11日
要約：

【要約】【課題】 本発明は電磁波検出装置と検出方法に関し,テラヘルツ電磁の周波数スペクトル,波形を正確に測定することを目的とする。【解決手段】パルス光発生手段と,電磁波の照射と該パルス光の照射により該電磁波を検出する検出手段を備え,該パルス光を照射して電磁波を検出する電磁波検出装置において,該パルス光と検出対象の電磁波を検出手段に対して同じ側から照射する構成をもつ。

請求項（抜粋）：

パルス光発生手段と,電磁波の照射と該パルス光の照射により該電磁波を検出する検出手段を備え,該パルス光を照射して電磁波を検出する電磁波検出装置において,該パルス光と検出対象の電磁波を検出手段に対して同じ側から照射することを特徴とする電磁波検出装置。

IPC (4件)：

G01J 3/28 ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/35 ,  G01R 29/08

FI (4件)：

G01J 3/28 ,  G01J 11/00 ,  G01N 21/35 Z ,  G01R 29/08 F

Fターム (35件)：

2G020AA03 ,  2G020CA14 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CC22 ,  2G020CD04 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G059AA05 ,  2G059EE12 ,  2G059FF04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059LL02 ,  2G059MM01 ,  2G059MM08 ,  2G065AA12 ,  2G065AB02 ,  2G065AB09 ,  2G065AB14 ,  2G065BA02 ,  2G065BA14 ,  2G065BB14 ,  2G065BB37 ,  2G065BC04 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC22 ,  2G065DA08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 光学的サンプラモジュールを使用したサンプリング波形測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-311949   出願人：株式会社アドバンテスト
• テラヘルツ画像形成のための方法及び装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-601407   出願人：テラプロウブリミテッド