特許

J-GLOBAL ID：200903000520721121

電流の計測方法および表面の測定装置

発明者： 坂口 浩司 ,  岩田 太 ,  佐々木 彰 ,  長村 利彦
出願人/特許権者： 静岡大学長
代理人 (1件)： 間山 進也 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-372814
公開番号（公開出願番号）：特開2002-174580
出願日： 2000年12月07日
公開日（公表日）： 2002年06月21日
要約：

【要約】【課題】 導電性の基板に分子を結合させて電気的接合をとり、また分子に導電性の探針を接触させて、探針に電圧を印加し、探針と基板との間に流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を計測することができる電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を提供する。【解決手段】 導電性の基板に結合させた分子に導電性の探針を接触させる段階と、前記探針に電圧を印加して前記探針と前記基板との間に電流を流す段階と、前記電流を計測する段階とを含む電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を用いる。

請求項（抜粋）：

導電性の基板に結合させた分子に導電性の探針を接触させる段階と、前記探針に電圧を印加して前記探針と前記基板との間に電流を流す段階と、前記電流を計測する段階とを含む、電流の計測方法。

IPC (2件)：

G01N 13/12 ,  G01B 7/34

FI (3件)：

G01N 13/12 A ,  G01N 13/12 D ,  G01B 7/34 Z

Fターム (19件)：

2F063AA43 ,  2F063BA30 ,  2F063BB08 ,  2F063BC09 ,  2F063CA40 ,  2F063DA02 ,  2F063DA05 ,  2F063DB05 ,  2F063DD02 ,  2F063EA16 ,  2F063EB15 ,  2F063EB23 ,  2F063FA07 ,  2F063JA04 ,  2F063LA11 ,  2F063LA13 ,  2F063LA23 ,  2F063LA26 ,  2F063MA05