特許
J-GLOBAL ID：200903000600804206
環状試料磁気特性測定装置および環状試料磁気特性測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 司朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-337460
公開番号（公開出願番号）：特開2007-139717
出願日： 2005年11月22日
公開日（公表日）： 2007年06月07日
要約：
【課題】実際の使用形状に則した環状の試料を測定の対象とする場合にあっても、測定の都度その準備に長時間を費やす必要がなく、且つ、正確な磁気特性の測定が可能な環状試料磁気特性測定装置および環状試料磁気特性測定方法を提供する。【解決手段】磁気特性測定装置は、環状の測定対象物が周方向に分割されてなる複数の試料片の各々をスライドにより収納する複数の試料収納部と、測定対象物に相当する閉磁路を形成するために、試料収納部に収納される複数の試料片の各間を磁気的に接続する接続部と、試料収納部の各々の外周に巻回形成されてなり、閉磁路を形成する複数の試料片を励磁する励磁コイルおよび閉磁路の励磁磁束を検出するための検出コイルとを有する構成となっている。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
環状の測定対象物が分割されてなる複数の弧状試料片の各々を、前記周方向にスライド収納する複数の試料収納部と、
前記測定対象物に相当する閉磁路を形成するために、前記試料収納部に収納される複数の弧状試料片の各間を磁気的に接続する接続部と、
前記試料収納部の各々の外周に巻回形成されてなり、前記閉磁路を形成する複数の弧状試料片を励磁する励磁コイル、および、前記閉磁路の励磁磁束を検出するための検出コイルとを有する
ことを特徴とする環状試料磁気特性測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G017AD04
, 2G017BA03
, 2G017CB16
, 2G017CB21
, 2G017CB23
