特許
J-GLOBAL ID：200903000617037764
蛍光X線分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉本 修司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-336222
公開番号（公開出願番号）：特開2001-153824
出願日： 1999年11月26日
公開日（公表日）： 2001年06月08日
要約：
【要約】【課題】 測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料の選択を簡単かつ適切に行うことができる蛍光X線分析装置を提供する。【解決手段】 元素ごとの含有率または当該装置による測定強度が既知である複数の選択対象試料3Bについて前記含有率または測定強度を比較値として記憶する記憶手段11と、その記憶手段11に記憶された内容に基づいて、元素ごとに、比較値において所定の順位にある選択対象試料3Aの1点をドリフト補正試料3Bとして選択する1点法選択手段14と、元素ごとに、選択されたドリフト補正試料3Bおよびその測定強度を記憶する登録手段18等を備える。
請求項（抜粋）：
試料に1次X線を照射して発生する蛍光X線の強度を測定する蛍光X線分析装置であって、元素ごとの含有率または当該装置による測定強度が既知である複数の選択対象試料について前記含有率または測定強度を比較値として記憶する記憶手段と、その記憶手段に記憶された内容に基づいて、元素ごとに、比較値が分布における所定の位置の値をとる選択対象試料1点を、当該装置における測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料として選択する1点法選択手段と、元素ごとに、選択されたドリフト補正試料およびその測定強度を記憶する登録手段と、その登録手段に記憶された内容を表示する登録表示手段とを備えた蛍光X線分析装置。
Fターム (15件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001EA01
, 2G001EA03
, 2G001FA02
, 2G001FA06
, 2G001FA08
, 2G001FA30
, 2G001GA01
, 2G001KA01
, 2G001NA07
, 2G001NA08
, 2G001NA10
, 2G001NA17
審査官引用 (2件)
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蛍光X線分析方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-214857
出願人：株式会社堀場製作所
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特開昭60-205340
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