特許
J-GLOBAL ID:200903000777411743

ピンホール検査装置及びピンホール検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 遠山 勉 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-340023
公開番号(公開出願番号):特開平10-185852
出願日: 1996年12月19日
公開日(公表日): 1998年07月14日
要約:
【要約】【課題】 良品を不良品と判定する誤判定を防ぎ検査精度の向上を図るとともに、塵や埃の付着が少ない電極を備えることにより製品の汚れや検査精度の低下を防止し、さらに、長期間検査に使用しても変形しない電極とすることにより高い信頼性を維持することができるピンホール検査装置及びピンホール検査方法を提供する。【解決手段】 本願発明のピンホール検査装置は、電流を空間に放電することでこの空間中に存する被検査物品に電荷を帯電する放電体と、被検査物品の少なくとも1点に接触してこの被検査物品に帯電した電荷を大地へと放電するアースと、被検査物品を放電体による帯電位置からアースによる放電位置へと搬送する搬送装置と、アースを通じて流れた電流値を検出する電流検出装置とを備え、電流検出装置により検出した電流値の大小により被検査物品のピンホールの有無を検出する。
請求項(抜粋):
包装体の内部に内容物を充填した被検査物品のピンホールを検査するピンホール検査装置において、電流を空間に放電することでこの空間中に存する被検査物品に電荷を帯電する放電体と、前記被検査物品の少なくとも1点に接触してこの被検査物品に帯電した電荷を大地へと放電するアースと、前記被検査物品を放電体による帯電位置からアースによる放電位置へと搬送する搬送装置と、前記アースを通じて流れた電流値を検出する電流検出装置とを備え、前記電流検出装置により検出した電流値の大小により前記被検査物品のピンホールの有無を検出することを特徴としたピンホール検査装置。
IPC (4件):
G01N 27/20 ,  A23L 1/31 ,  A23L 1/325 101 ,  A23L 3/00 101
FI (4件):
G01N 27/20 A ,  A23L 1/31 E ,  A23L 1/325 101 H ,  A23L 3/00 101 A
引用特許:
審査官引用 (4件)
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