特許
J-GLOBAL ID：200903023194913759
食品包装用シート及び食品密封容器のピンホール不良検査方法並びに装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
平木 祐輔 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-043124
公開番号（公開出願番号）：特開平8-240569
出願日： 1995年03月02日
公開日（公表日）： 1996年09月17日
要約：
【要約】【目的】金属箔による導電性層を含んだラミネート構造の食品包装用シートによる食品密封容器のピンホール不良を能率よく、しかも高い確実性をもって検査する。【構成】 導電性層Saを挟んで樹脂層Sb、Scを積層した食品包装用シートSを熱溶着して形成された食品密封容器Aのピンホール不良検査方法において、接地電極21をシートAの導電性層Saに接触させ、接地電極21と食品密封容器Aの表面に接触もしくは接近させた検出電極23との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出する。
請求項（抜粋）：
導電性層を挟んで樹脂層を積層した食品包装用シートのピンホール不良検査方法において、接地電極をシート端面に露出する導電性層に接触させ、該接地電極とシート表面に接触もしくは接近させた検出電極との間に電圧を印加して放電電流の有無を検出することを特徴とする食品包装用シートのピンホール不良検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/92 A
, B65B 57/00 D
