特許
J-GLOBAL ID：200903000848066996
電気光学パネルの検査装置及び電気光学パネルの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
上柳 雅誉
, 藤綱 英吉
, 須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-261706
公開番号（公開出願番号）：特開2007-071813
出願日： 2005年09月09日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：
【課題】 解析画像の精度を良くするために、複数の結像画像を表す複数の画像データを積算して補正することにより得る必要があり、解析画像を得るのに要する時間が長くなってしまうという問題があった。【解決手段】 本発明に係る電気光学パネルの検査装置は、電気光学パネルが有する特性である光強度の角度分布を表す配光特性を示す2次元配光分布に基づいた画像を結像させる画像結像部と、画像結像部により結像された画像を、所定の露光時間及び撮像回数からなる条件に基づいて撮像し、撮像結果から前記電気光学パネルが有する配光特性を示すデータとなる受光画像データを生成する撮像部と、受光画像データに基づいて、電気光学パネルが有する配光特性を解析するための解析画像データを出力する解析画像データ出力部とを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電気光学パネルを透過又は反射して出射された光である表示光を受光し、前記電気光学パネルが有する特性である光強度の角度分布を表す配光特性を示す2次元配光分布に基づいた画像を結像させる画像結像部と、
前記画像結像部により結像された画像を、所定の露光時間及び撮像回数からなる条件に基づいて撮像し、撮像結果から前記電気光学パネルが有する配光特性を示すデータとなる受光画像データを生成する撮像部と、
前記受光画像データに基づいて、前記電気光学パネルが有する配光特性を解析するための解析画像データを出力する解析画像データ出力部と、を備えたことを特徴とする電気光学パネルの検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M11/00 T
, G02F1/13 101
2G086EE10
, 2H088FA12
, 2H088FA13
, 2H088HA24
, 2H088KA30
, 2H088MA02
, 2H088MA07
, 2H088MA20
