特許
J-GLOBAL ID：200903079684143183

電気光学パネルの検査装置及び電気光学パネルの製造方法、並びに視野角特性判定方法及び組みずれ判定方法

発明者：
小林 任

小林 任 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-348411
公開番号（公開出願番号）：特開2005-114519
出願日： 2003年10月07日
公開日（公表日）： 2005年04月28日
要約：
【課題】 電気光学パネルの検査を容易に検査する。【解決手段】 電気光学パネルの検査装置であって、電気光学パネルを所定位置に保持するパネル保持手段と、保持された電気光学パネルの外部回路接続用又は検査用の端子に対して接触する位置に可動であり、前記端子に接触した状態で前記端子に対して検査用駆動信号を供給するプローブと、保持された電気光学パネルから出射された表示光を受光して、該受光された表示光における2次元配光分布を測定する2次元配光測定手段とを備える。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
電気光学パネルの検査装置であって、 電気光学パネルを所定位置に保持するパネル保持手段と、 前記保持された電気光学パネルの外部回路接続用又は検査用の端子に対して接触する位置に可動であり、前記端子に接触した状態で前記端子に対して検査用駆動信号を供給するプローブと、 前記保持された電気光学パネルから出射された表示光を受光して、該受光された表示光における2次元配光分布を測定する2次元配光測定手段と を備えたことを特徴とする検査装置。
IPC (3件)：
G01M11/00 ,  G02F1/13 ,  G09F9/00
FI (3件)：
G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G09F9/00 352
Fターム (20件)：
2G065AA17 ,  2G065AB04 ,  2G065BA04 ,  2G065BC14 ,  2G065DA05 ,  2G086EE10 ,  2H088FA11 ,  2H088FA16 ,  2H088FA17 ,  2H088FA30 ,  2H088HA01 ,  2H088HA10 ,  2H088MA20 ,  5G435AA17 ,  5G435BB05 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435EE21 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許：
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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