特許
J-GLOBAL ID:200903000945149642
電線劣化検査方法及び装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
加川 征彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-424737
公開番号(公開出願番号):特開2005-181188
出願日: 2003年12月22日
公開日(公表日): 2005年07月07日
要約:
【課題】 架空送電線の内部劣化状況を容易に検査できるようにする。【解決手段】 架空送電線1に対して直角二方向からX線を照射し、架空送電線を透過した透過X線を受けたX線検出部3により直接的又は間接的に、前記直角二方向の2つの透視画像を得て、架空送電線の素線切れや腐食等の内部劣化状況を検査する。装置の管理や環境等に関して、装置の使用上の困難はあまりない。また、装置が安価でコンパクトに済み、また検査の作業性が良好である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
架空送電線に対して概ね直角二方向からX線を照射し、架空送電線を透過した透過X線を受けたX線検出部により直接的又は間接的に、前記直角二方向の2つの透視画像を得て、架空送電線の内部劣化状況を検査することを特徴とする架空送電線の電線劣化検査方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (21件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA06
, 2G001DA09
, 2G001GA03
, 2G001GA13
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001JA01
, 2G001JA06
, 2G001JA16
, 2G001KA03
, 2G001KA20
, 2G001LA11
, 2G001MA06
, 2G001NA06
, 2G001NA16
, 2G001QA03
, 2G001SA29
引用特許:
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