特許
J-GLOBAL ID：200903001082081307
故障診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-061625
公開番号（公開出願番号）：特開平7-271591
出願日： 1994年03月30日
公開日（公表日）： 1995年10月20日
要約：
【要約】【目的】 知識ベースの構築が比較的容易で、しかも知識ベースの維持コストを低く抑えることのできる故障診断装置を提供する。【構成】 知識ベース部16には過去の事例を知識データとして蓄積する診断事例型知識データ記憶部16aを備え、推論機構部14に設けた事例ベース推論部14bでは、入力された不具合現象と同一又は類似する現象を上記知識データに記憶されている事象から検索し、仮設を生成する。そして、推論制御部14cでは、上記事例ベース推論部14bで生成した仮設が複数ある場合、この仮設を絞り込み、この絞り込んだ仮設を探究結果として出力する。知識ベースとして過去の事例を蓄積する知識データを採用したので、知識ベースの構築が容易になる。
請求項（抜粋）：
故障診断に必要な知識データを記憶する知識ベース部(16)と、この知識データを利用して故障原因を推論により探究する推論機構部(14)とを有する故障診断装置において、前記知識ベース部(16)に過去の診断事例を知識データとして記憶する診断事例型知識データ記憶部(16a)を備え、前記推論機構部(14)に、入力された不具合現象と同一又は類似の不具合現象を上記診断事例型知識データ記憶部(16a)に記憶されている知識データから探索して故障原因を探究し仮説を生成する事例ベース推論部(14b)と、上記事例ベース推論部(14b)で生成した仮説を絞り込んで探究結果を出力する推論制御部(14c)とを備えることを特徴とする故障診断装置。
IPC (5件)：
G06F 9/44 550
, G06F 9/44
, B64F 5/00
, G01M 17/007
, G01M 19/00
出願人引用 (1件)
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異常診断支援装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-315182
出願人：バブコツク日立株式会社
審査官引用 (1件)
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異常診断支援装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-315182
出願人：バブコツク日立株式会社
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